Artec 3D AI驅動HD模式讓Eva和Leo 3D手持式掃描儀分辨率提高兩倍以上

　　2020年10月14日加利福尼亞圣克拉拉 ——全球知名專業3D軟硬件開發商和制造商Artec 3D今天宣布成功開發了專利AI引擎，該引擎在新發布的HD模式下將Eva和Leo手持掃描儀的分辨率提高了兩倍以上，達到0.2毫米。 Artec 3D是利用深度卷積神經網絡來重建3D表面并提高3D模型質量的公司。使用HD模式，用戶可以為具有復雜表面和不少精密細節的物體、大型精密物體進行精確的低噪點掃描。 HD模式免費，Eva和Leo用戶可通過Artec 3D新掃描和數據處理軟件Artec Studio 15使用。

　　“通過自主開發的培訓技術和卷積神經網絡，我們得以從Eva和Leo 3D掃描儀捕獲的同量數據中獲取更多信息，并能為被掃描的場景制作出更為豐富飽滿的形象”，Artec 3D首席技術官Gleb Gusev說道。 “現在，我們可以從同一臺掃描儀上獲得多達64倍的測量結果，使得模型的分辨率提高兩倍以上，且噪點顯著降低。新模式的另一個優點是，與標準算法相比，它的表面重建更準確。”

　　“我們致力于培養Artec 3D長期用戶，不僅要開發業界前沿的3D新技術，同時還要確保不斷提高現有產品的性能，”Artec 3D總裁兼首席執行官Artyom Yukhin說道。新發布的HD模式由神經網絡技術驅動，對3D掃描行業而言是一項重要里程碑，帶給用戶的好處立竿見影。幾乎沒有任何一家公司免費發布如此重要的升級，但是我們希望用戶放心，購買我們的技術，未來幾年可持續獲得回報。”

　　Artec 3D在計算機視覺和AI領域涉足較早，為旗下3D面部識別設備以及技術行業領軍品牌創建AI算法。近來，Artec 3D的AI專家團隊與Apple合作為其開發了Face ID?，F在，Artec 3D借助自身專業知識，不僅將AI應用于3D人臉識別，還應用于任何種類的3D對象。 Studio 15軟件中支持Artec 3D AI引擎的卷積神經網絡已經過數百萬數據點和數十萬個3D模型的訓練，可確保在HD模式下實現高性能。

　　Eva或Leo操作員打開HD Reconstruction掃描模式，即可收獲高分辨率，覆蓋面更廣，細節更豐富。他們還可以選擇HD掃描密度，從標準1倍到Eva的36倍和Leo的64倍，效果驚艷。要體驗HD模式的強大，用戶必須使用具備NVIDIA GPU和2 GB（Eva）/ 4 GB（Leo）視頻RAM的計算機，才能實現高清掃描和數據處理效果。 NVIDIA是Artec 3D推薦Artec Studio用戶使用的顯卡品牌。

　　HD模式讓Eva和Leo掃描儀用戶得以捕獲更多物體細節，分辨率提升2倍以上。此模式可輕松捕獲銳利邊緣和薄邊，效果更清晰。即便是具有各種高難度表面的復雜結構，例如孔、縫隙、變化的深度和角度，以及凹面結構，都可以在每幀中系統重建，以實現好的掃描效果。使用HD模式，棘手表面，例如深黑色、反光或毛發覆蓋的表面，也更容易數字化，且細節效果驚人。 HD模式在原始數據和成品模型中均可呈現出色的降噪水平，無需任何編輯，即可用于逆向工程及許多其他應用場景。